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一种用于多元素原子吸收测定的易于调试的狭缝装置

摘要

本实用新型公开了一种用于多元素原子吸收测定的易于调试的狭缝装置,所述狭缝装置包括狭缝片以及狭缝底座,所述狭缝片设置在狭缝底座上,且狭缝片上开设有若干狭缝,每个狭缝对应一个测量元素对应的波长,每个狭缝的宽度和探测器的光谱分辨率相对应。本狭缝装置,其能够同时测定多元素原子吸收,且结构简单,调试非常简单和可靠,从而有效的保证测定的精确度。

著录项

  • 公开/公告号CN203658242U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海光谱仪器有限公司;

    申请/专利号CN201320759350.7

  • 发明设计人 陈建钢;杨啸涛;刘志高;丁浩彦;

    申请日2013-11-26

  • 分类号G01N21/01(20060101);G01J3/04(20060101);

  • 代理机构31224 上海天翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘常宝

  • 地址 201709 上海市青浦区白鹤镇工业园区4小区第4幢24号

  • 入库时间 2022-08-22 00:09:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/01 授权公告日:20140618 终止日期:20151126 申请日:20131126

    专利权的终止

  • 2014-06-18

    授权

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