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基于光学自由曲面的多轴系统误差建模及测量装置

摘要

本实用新型属于多轴系统检测领域,为提供一种可实现高精度、低成本,能综合测量多轴系统几何误差的测量装置,实现多轴系统几何误差的综合测量,为此,本实用新型采用的技术方案是,基于光学自由曲面的多轴系统误差建模及测量装置,包括:半导体激光器、准直缩束系统、四象限光电二极管QPD、成像透镜、1/4波片、光学自由曲面标准件、偏振分光棱镜PBS、图像探测器CCD;半导体激光器的激光经准直缩束系统、偏振分光棱镜PBS、1/4波片投射到光学自由曲面标准件上,光学自由曲面标准件反射出的反射光经1/4波片、偏振分光棱镜PBS反射再由成像透镜汇聚到四象限光电二极管QPD上。本实用新型主要应用于多轴系统检测。

著录项

  • 公开/公告号CN203518952U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201320494963.2

  • 发明设计人 房丰洲;朱朋哲;万宇;

    申请日2013-08-13

  • 分类号G01B11/03(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人刘国威

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-22 00:04:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-20

    避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01B11/03 授权公告日:20140402 放弃生效日:20160420 申请日:20130813

    避免重复授权放弃专利权

  • 2014-04-02

    授权

    授权

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