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一种超高压光电导开关测试装置

摘要

本实用新型公开了一种超高压光电导开关测试装置,属于半导体器件测试技术领域。其包括测试平台和测试电路,所述的测试平台包括万向轮、箱体工作台和夹紧机构;所述的万向轮安装于箱体工作台的底部,所述的夹紧机构设置于箱体工作台的顶部;所述的测试电路安置于箱体工作台的内部。针对现有技术结构复杂、无法简便的更换待测光电导开关且不能适用于多种测试环境的问题,本实用新型设计有专门的待测光电导开关夹紧机构,可以方便对待测光电导开关进行更换,并且底部装有万向轮,使得本实用新型可以适用于多种测试环境。

著录项

  • 公开/公告号CN203337790U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2013-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 安徽工业大学;

    申请/专利号CN201320419289.1

  • 发明设计人 周郁明;姜浩楠;

    申请日2013-07-15

  • 分类号

  • 代理机构南京知识律师事务所;

  • 代理人蒋海军

  • 地址 243002 安徽省马鞍山市花山区湖东路59号

  • 入库时间 2022-08-21 23:58:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R31/327 授权公告日:20131211 终止日期:20150715 申请日:20130715

    专利权的终止

  • 2013-12-11

    授权

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