18联方非接触式IC卡INLAY的测试装置

摘要

本实用新型提供了一种18联方非接触式IC卡INLAY的测试装置，所述测试装置，包括一盒体，其特征在于，所述盒体表面设置有LCD显示屏；所述盒体内部设置有非接触式IC卡的读写模块、MCU控制模块以及3×6排列的天线板，MCU控制模块输出控制指令，进而控制3×6排列的天线板上天线的切换，所述读写模块对被接通天线对应的IC卡进行读写，并将测试结果反馈给MCU控制模块进行分析处理，进而输出给LCD显示屏，以显示测试结果信息。所述测试装置，使得测试过程更加方便快捷，测试结果更加准确。