发光二极管芯片的温度测量方法及使用的热敏高分子材料

摘要

一种发光二极管芯片的温度测量方法，包括以下步骤：提供高分子材料，该高分子材料包括支撑体和分散于该支撑体中的荧光分子、交联剂、负离子基团及水分子，该荧光分子包覆于支撑体内，该荧光分子随外部环境温度的变化而变化；用不同波长的光源激发高分子材料并采集高分子材料在不同温度条件下的荧光光强值，得到光源波长、该高分子材料温度及荧光光强值的关系数据库；提供已固晶打线的发光二极管封装结构，将高分子材料置于待测发光二极管芯片上并通电，测量该热高分子材料的荧光光强并与数据库对比得到发光二极管芯片温度。本发明还涉及一种热敏高分子材料。在本发明中利用荧光分子的荧光光强与温度的变化关系来测量发光二极管芯片温度。