使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计

摘要

一种使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计(1)，其中测量信号包括第一频率扫描和第二频率扫描，并且混频器(25)被布置为使测量信号与回波信号混频以基于第一频率扫描形成第一IF信号，并且基于第二频率扫描形成第二IF信号。处理电路(11)采样电路适于对第一IF信号和第二IF信号采样，以形成包括来自每个料箱信号的样本的组合样本向量，并且基于组合样本向量确定距离。通过组合来自两次(或更多次)不同扫描的样本，样本数目和带宽均可以增加，因而维持范围L。然而，由于样本获得自两次分立的扫描，因此各次扫描的扫描时间不需要增加，并且可以维持平均功耗。