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双远场电磁聚焦测厚仪

摘要

本实用新型提供一种双远场电磁聚焦测厚仪,包括发射单元和接收单元,所述发射单元包括两个发射线圈,所述接收单元包括40组接收线圈,所述两个发射线圈对称设置于所述40组接收线圈两侧;所述40组接收线圈分两层均匀分布,每层20组,每层相邻的接收线圈组相差18°,两层接收线圈组之间相对应的线圈组相差9°,每组线圈差分串联。本实用新型根据发射电磁场原理,改变线圈电磁场在套管内外的分布,使仪器在不用推靠系统的条件下,即能够满足仪器的测量精度又提高了仪器水平方向的分辨率;本实用新型采用远场低频双发射及阵列接收探头的结构,具有测量精度高,水平方向的分辨率高的优点,而且结构简单便于生产推广。

著录项

  • 公开/公告号CN202000994U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2011-10-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安威盛电子仪器有限公司;

    申请/专利号CN201020655992.9

  • 发明设计人 詹保平;张国辉;

    申请日2010-12-13

  • 分类号E21B47/00(20060101);G01B7/06(20060101);

  • 代理机构61217 西安西交通盛知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人黄瑞华

  • 地址 710065 陕西省西安市高新区科技五路20号和发智能大厦三楼

  • 入库时间 2022-08-21 23:23:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-10-05

    授权

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