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一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱及其制作方法

摘要

一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱的制作方法,属于无损检测领域,其特征是:首先收集带有不同缺陷的零部件试样,进行物理金相测试;然后对零部件试样进行荧光渗透检测;将试样的物理金相结果与荧光渗透检测结果进行对比,绘制对比图谱。有益效果是:本发明提供的荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱,能有效地模拟被检件真实缺陷显示的大小及等级;为无损检测领域中,荧光渗透检验标准的制作提供了一种新方法;该对比图谱使用方便、检测准确、可人为控制,为生产过程节约了大量人力、物力。

著录项

  • 公开/公告号CN103822928B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201110252155.0

  • 发明设计人 任富华;刘海强;任鹏;

    申请日2011-08-30

  • 分类号

  • 代理机构沈阳晨创科技专利代理有限责任公司;

  • 代理人张晨

  • 地址 110000 辽宁省沈阳市大东区东塔街6号

  • 入库时间 2022-08-23 09:38:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/91 授权公告日:20160427 终止日期:20170830 申请日:20110830

    专利权的终止

  • 2016-04-27

    授权

    授权

  • 2016-04-27

    授权

    授权

  • 2014-06-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/91 申请日:20110830

    实质审查的生效

  • 2014-06-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/91 申请日:20110830

    实质审查的生效

  • 2014-05-28

    公开

    公开

  • 2014-05-28

    公开

    公开

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