法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-08-16
专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R31/40 授权公告日:20100512 申请日:20090723
专利权的终止
2010-05-12
授权
授权
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数
机译: 用于对生物测试样本中的一种或多种目标类型的目标分子存在进行测试的缓冲液的测试系统;用于测试生物测试样品中一种或多种目标类型的目标分子的存在的测试系统;以及靶向分子以促进对生物测试样品的一种或多种靶类型的靶分子的存在的测试的方法。
机译: 用于测试地面补充系统的信号的方法和测试基于地面补充系统的测试系统