首页> 中国专利> 一种液晶空间光调制器特性参数的高精度测试装置

一种液晶空间光调制器特性参数的高精度测试装置

摘要

一种液晶空间光调制器特性参数的高精度测试装置,它涉及光电测试技术领域。它解决了现有液晶空间光调制器特性参数测量方法中工频信号和低频噪声的干扰使激光光源产生波动导致测量精度低的问题。系统输入的激光光束先后经声光调制器和起偏器后由分光棱镜透射获得透射光,透射光经液晶空间光调制器反射回分光棱镜,经检偏器、透镜、光阑后入射至光电二极管的光输入端,光电二极管的电信号输出端与锁相放大器的第一信号输入端连接,锁相放大器的信号输出端与计算机的第一信号输入端连接,调制波发生器的第一信号输出端和第二信号输出端分别与声光调制器的信号输入端和锁相放大器的第二信号输入端连接。本实用新型适用于测量液晶器件特性参数的过程。

著录项

  • 公开/公告号CN201382851Y

    专利类型

  • 公开/公告日2010-01-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨理工大学;

    申请/专利号CN200920099846.X

  • 发明设计人 张洪鑫;张健;吴丽莹;

    申请日2009-05-13

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人张宏威

  • 地址 150008 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号

  • 入库时间 2022-08-21 23:07:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-07-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M11/02 授权公告日:20100113 终止日期:20120513 申请日:20090513

    专利权的终止

  • 2010-01-13

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号