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一种遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法

摘要

本发明公开了一种遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法,所述的方法通过使用图像采集设备对晶粒图像拍照,并把晶粒图像传送到固晶机设备控制计算机中,由设备控制计算机中对该图像进行分析处理,判断出图像中多个区域的晶粒有无情况,并根据该有无情况,驱动工作台电机的运转,实现工作台的步进动作,最后完成对不规则区域内的晶粒的遍历。本方法可在电机速度和图像处理效率不变的情况下,提高晶粒的遍历效率,并有效避免了工作台无谓的空步进状况的出现;在整个晶粒区域遍历过程中,通过多个区域的判断,引导工作台的遍历跳转动作,防止工作台脱离晶粒区域,提高了单次晶粒区域遍历的完整性。

著录项

  • 公开/公告号CN103018154B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210515505.2

  • 申请日2012-12-05

  • 分类号

  • 代理机构北京中建联合知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人朱丽岩

  • 地址 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区泰河三街1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:38:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/14 授权公告日:20160427 终止日期:20181205 申请日:20121205

    专利权的终止

  • 2016-04-27

    授权

    授权

  • 2016-04-27

    授权

    授权

  • 2014-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/14 申请日:20121205

    实质审查的生效

  • 2014-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/14 申请日:20121205

    实质审查的生效

  • 2013-04-03

    公开

    公开

  • 2013-04-03

    公开

    公开

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