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测试手机组件的测试接口以及使用该测试接口的测试装置

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本实用新型提供了用于测试手机组件的测试接口以及使用该测试接口的测试装置，其中，该测试接口包括PCB板(4)、多个探针(5)、连接件(6)，所述PCB板(4)固定在所述连接件(6)上，且该PCB板(4)上具有通孔(9)、多个焊盘(7)以及端子组(8)，每个焊盘(7)分别与端子组(8)中的对应端子电连接，所述每个探针(5)一端固定在所述连接件(6)上且另一端穿过所述PCB板(4)上的通孔(9)。通过使用该测试接口可以同时对多个手机组件进行测试，减少了测试设备的使用，并提高了测试效率。

著录项

公开/公告号CN201114649Y

专利类型
公开/公告日2008-09-10

原文格式PDF
申请/专利权人比亚迪股份有限公司;
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申请/专利号CN200720177655.1
发明设计人易松林;田东伟;刘汉中;闫伟伟;
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申请日2007-09-29
分类号
代理机构北京润平知识产权代理有限公司;
代理人王凤桐
地址 518119 广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园
入库时间 2022-08-21 22:59:46

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-11-16

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04Q7/34 授权公告日:20080910 终止日期:20150929 申请日:20070929

专利权的终止
2009-08-12

专利实施许可合同的备案合同备案号:2009440000401 让与人:比亚迪股份有限公司受让人:惠州比亚迪电子有限公司实用新型名称:测试手机组件的测试接口以及使用该测试接口的测试装置授权公告日:20080910 许可种类:独占许可备案日期:20090525 合同履行期限:2008.11.1至2017.8.17 申请日:20070929

专利实施许可合同的备案
2008-09-10

授权

授权

相似文献

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外文文献

1. 测试手机组件的测试接口以及使用该测试接口的测试装置 [P] . 中国专利： CN201114649Y . 2008.09.10
2. 一种接口测试组件及接口测试装置 [P] . 中国专利： CN107608842A . 2018-01-19
3. Coupling device e.g. personal computer coupling device, for e.g. motor vehicle, has base component and module with test interface controller configurable by software for communication with interface of device to be tested [P] . 德国专利： DE102006013945A1 . 2007-10-04

机译：耦合装置个人计算机耦合装置，例如机动车辆，具有基本组件和模块，带有可通过软件配置的测试接口控制器，用于与要测试的设备的接口进行通信
4. Semiconductor device test apparatus having interface unit and semiconductor device test method using the same [P] . 韩国专利： KR101511161B1 . 2015-04-13

机译：具有接口单元的半导体器件测试装置以及使用该半导体器件测试装置的半导体器件测试方法
5. Semiconductor device test apparatus including interface unit and method of testing semiconductor device using the same [P] . 美国专利： US7973550B2 . 2011-07-05

机译：包括接口单元的半导体器件测试装置和使用该半导体器件测试装置的半导体器件的测试方法