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二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置

摘要

本实用新型公开了一种二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置,它包括固定支架(1),在固定支架(1)上通过平行簧片(2)连接有可动支架(3),2个支架之间安装有水平位移传感器(11),可动支架(3)上安装杠杆(5),杠杆(5)的一端固定触针(6),杠杆(5)的另一端与可动支架(3)之间安装有垂直位移传感器(8)。本实用新型的主传感器测量触针垂直方向的位移的同时,辅助传感器可以检测出触针的水平偏移,使触针在每一个采样间隔中都能顺利地划过陡峭轮廓表面。具有能够使触针顺利划过陡峭轮廓表面,对各种复杂表面进行大量程和高精度测量,测量误差小等优点,适合于各种复杂表面轮廓的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN201016702Y

    专利类型

  • 公开/公告日2008-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 贵州大学;

    申请/专利号CN200620200959.0

  • 发明设计人 杨旭东;王生怀;李家春;谢铁邦;

    申请日2006-11-23

  • 分类号

  • 代理机构贵阳中新专利商标事务所;

  • 代理人郭防

  • 地址 550003 贵州省贵阳市蔡家关贵州大学科技处

  • 入库时间 2022-08-21 22:57:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-02-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B7/28 授权公告日:20080206 终止日期:20101123 申请日:20061123

    专利权的终止

  • 2008-02-06

    授权

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