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公开/公告号CN201016702Y
专利类型
公开/公告日2008-02-06
原文格式PDF
申请/专利权人 贵州大学;
申请/专利号CN200620200959.0
发明设计人 杨旭东;王生怀;李家春;谢铁邦;
申请日2006-11-23
分类号
代理机构贵阳中新专利商标事务所;
代理人郭防
地址 550003 贵州省贵阳市蔡家关贵州大学科技处
入库时间 2022-08-21 22:57:14
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-02-08
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B7/28 授权公告日:20080206 终止日期:20101123 申请日:20061123
专利权的终止
2008-02-06
授权
机译: 二维位移传感器和使用它的二维位移测量装置
机译: 测量测试仪和表面形貌测量装置的表面形貌的方法
机译: 自主确定表面形貌测量系统的系统误差的方法及表面形貌测量装置
机译:用于三维表面形貌测量的大量程轮廓仪
机译:摄像机作为位移传感器-二维或三维运动测量的另一种方法
机译:一维和二维单模差分光纤位移传感器,用于亚毫米波测量
机译:用于二维分离的MEMS制造的SU-8装置,以及饱和溶液中的分子扩散测量
机译:应用光纤二维偏转传感器和大地测量确定变形的比较分析
机译:带有内置微位移传感器的剪切力测量装置
机译:原位光谱腐蚀产率测量及其在溅射和表面形貌变化中的应用。