公开/公告号CN2938088Y
专利类型
公开/公告日2007-08-22
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院声学研究所;
申请/专利号CN200620124006.0
申请日2006-07-14
分类号G01N29/12(20060101);
代理机构11280 北京泛华伟业知识产权代理有限公司;
代理人高存秀
地址 100080 北京市海淀区北四环西路21号
入库时间 2022-08-21 22:54:59
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-01-06
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权) 放弃生效日:20060714 申请日:20060714
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
2007-08-22
授权
授权
机译: 适应振荡电路的微质量测量仪及微质量测量方法
机译: 分类颗粒测量装置,分类颗粒测量方法,微质量测量装置和微质量测量方法
机译: 一种每单位面积的质量测量方法,一种层压膜的制造方法以及每单位面积的质量测量装置