首页> 中国专利> 掠入射软X射线和极紫外线平场谱仪

掠入射软X射线和极紫外线平场谱仪

摘要

本实用新型涉及一种掠入射软X射线和极紫外线平场谱仪,该谱仪主要由光学系统、真空系统、图像采集系统、支撑系统等组成;光学系统主要由超环面镜、狭缝、平场光栅等组成。该谱仪灵敏度高,摄谱范围大,图像采集系统中使用CCD相机,可实现空间分辨光谱的实时采集;该谱仪中各光学元件都安装在相应的精密调节装置上,稳定性好,结构紧凑,精度高,调节方便,操作简单、高效;该谱仪各部件之间耦合精度高,工作稳定可靠;整个谱仪通过模拟光源进行调节,调节方法简单,使用方便;该谱仪可广泛用于热等离子体的无干扰诊断。

著录项

  • 公开/公告号CN2608962Y

    专利类型

  • 公开/公告日2004-03-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN02294156.8

  • 发明设计人 张杰;陈正林;彭晓昱;

    申请日2002-12-27

  • 分类号G01J3/18;G01J3/28;

  • 代理机构11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王凤华

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-21 22:46:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-20

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2004-03-31

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号