首页> 中国专利> 二维平面式二阶磁场梯度计

二维平面式二阶磁场梯度计

摘要

本实用新型涉及一种二维平面式二阶磁场梯度计,该梯度计采用双闭合环路探测线圈,使线圈的某一段的电流与磁感应强度的二维梯度成正比,与SQUID耦合形成二维平面式二阶磁场梯度计,其结构简单,并且对SQUID的位置要求不严,可以由多个SQUID与该段线路耦合,其成品率高,且其用于探测磁场时,对梯度计的方向性要求不强。

著录项

  • 公开/公告号CN2553388Y

    专利类型

  • 公开/公告日2003-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN02238033.7

  • 申请日2002-06-28

  • 分类号G01R33/035;

  • 代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王凤华

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-21 22:44:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-08-23

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2003-05-28

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号