公开/公告号CN2423582Y
专利类型
公开/公告日2001-03-14
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN00217938.5
申请日2000-06-08
分类号G01N21/21;
代理机构上海华东专利事务所;
代理人李兰英
地址 201800 上海市800-211邮政信箱
入库时间 2022-08-21 22:41:35
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2006-08-09
专利权的终止未缴年费专利权终止
专利权的终止未缴年费专利权终止
2001-03-14
授权
授权
机译: 干涉测量中物体反射/散射和透射/散射光束的场的共轭正交分量的联合和延时测量的装置和方法
机译: 干涉测量中物体反射/散射和透射/散射光束的场的共轭正交分量的联合和延时测量的装置和方法
机译: 光纤的向后散射光测量装置-具有滤光镜和聚焦透镜,分离和检测去偏振散射光