通用可编程集成电路及微机测试仪

摘要

本实用新型提供了一种可编程集成电路与微机系统故障检测仪。属于电子测量设备类。本检测仪主要解决了集成电路和微机系统逻辑测试的一体化；可测Z80-CPU、PIO、及62256、8255等大规模芯片、74及4000系列、多种计算机系系统、40线间通断等。具备高级语言TESTBASIC。其特点是用一个专用微机控制多个具有电源、地线、输入、输出等能力的可编程双向五态门，在程序控制下完成各种测试。用于科研、生产及维修等部门。