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微机化干涉扫描微位移测量仪

摘要

一种微机化干涉扫描微位移测量仪器,属于长度计量技术领域。本实用新型根据扫描干涉仪原理,采用三光束射入单一的法布里·白洛干涉仪,分别判别位移的方向、整数和小数,使测量量程提高了一倍。同时采用了压电扫描非线性补偿装置,光准直系统,光导纤维,斜光束干涉聚光镜,微膨胀合金结构和微机提高了精度和测量自动化。本实用新型可使量程达100微米,精度达0.005微米,可用于块规检定,物理量测试,地震研究及同步辐射实验。

著录项

  • 公开/公告号CN2057744U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日1990-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学技术大学;

    申请/专利号CN89206552.4

  • 申请日1989-04-29

  • 分类号G01B11/02;

  • 代理机构34103 中国科学技术大学专利事务所;

  • 代理人童建安

  • 地址 安徽省合肥市金寨路96号

  • 入库时间 2022-08-21 22:32:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1993-09-01

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 1991-01-23

    授权

    授权

  • 1990-05-30

    公开

    公开

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