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公开/公告号CN2057744U
专利类型实用新型
公开/公告日1990-05-30
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学技术大学;
申请/专利号CN89206552.4
发明设计人 钱石南;冯焕清;张志萍;黄文浩;施周宏;阚娅;
申请日1989-04-29
分类号G01B11/02;
代理机构34103 中国科学技术大学专利事务所;
代理人童建安
地址 安徽省合肥市金寨路96号
入库时间 2022-08-21 22:32:57
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
1993-09-01
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-01-23
授权
1990-05-30
公开
机译: 干涉条纹显微位移测量仪
机译: 对于干涉测量仪,使用干涉测量仪,干涉测量仪
机译: 微位移检测器装置,具有微位移检测器装置的压电致动器和具有压电致动器的扫描探针显微镜
机译:光学扫描外部Fabry-Perot干涉仪,用于绝对微位移测量
机译:轴向缩放2D单次梳理干涉测量使用空间相位调制器进行轮廓测量仪和断层扫描
机译:外在法布里-珀罗干涉仪与光谱干涉测量技术在微位移测量中的应用
机译:小波变换在波长扫描法布里-珀罗干涉仪的微位移测量中的应用
机译:使用低相干干涉测量法/光学相干断层扫描和声学测量对中耳细菌生物膜进行非侵入性评估。
机译:使用光学相干断层扫描技术进行激光凝固的二维微位移测量
机译:基于扫频光学相干断层扫描的新型生物测量仪与部分相干干涉测量法和光学低相干反射测量法在光学生物测量中的重复性和一致性
机译:用mark 3 stellar干涉仪测量大角度限制干涉角干涉天体测量仪