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辐射探测器、用在平面束射线照相中的设备及检测电离辐射的方法

摘要

一种用于电离辐射的探测的探测器(64),包括:一个腔室(91),填充有一种电离气体;第一和第二电极装置(2,1),提供在所述腔室中,在他们之间有一个空间,所述空间包括一个转换和漂移体积(13);用于电子雪崩放大的装置(17),布置在所述腔室中在所述第一和第二电极装置(2,1)之间;及至少一个读出元件装置(4;5;15),用于探测电子雪崩。该探测器的特征在于:提供一个辐射进口(10),从而辐射进入在第一与第二电极装置(2,1)之间的转换和漂移体积(13);用于电子雪崩放大的装置(17)包括至少一个雪崩阴极(18)和至少一个雪崩阳极(4;19;20),在他们之间施加一个电压以便生成用于雪崩放大的至少一个电场;及用于电子雪崩放大的所述装置(17)包括多个雪崩区域。

著录项

  • 公开/公告号CN1205488C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 埃克斯康特尔股份公司;

    申请/专利号CN00807426.7

  • 申请日2000-03-30

  • 分类号G01T1/185;H01J47/02;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人冯谱

  • 地址 瑞典丹德吕德

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-06-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01T 1/185 授权公告日:20050608 终止日期:20100330 申请日:20000330

    专利权的终止

  • 2005-06-08

    授权

    授权

  • 2002-06-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-05-22

    公开

    公开

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