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一种提高光学相干层析成像纵向分辨率的方法及系统

摘要

一种提高光学相干层析成像纵向分辨率的方法及系统,涉及一种光学相干层析成像(OCT)技术。本发明的技术特点是通过利用色散元件和挡光物改变输入给光学相干层析成像系统光源的光谱形状来提高其纵向分辨率,或者是在OCT的光学延迟线即参考臂的透镜和振镜之间增加一挡光物来改变参考臂返回光的光谱形状,达到改善OCT纵向分辨率的目的。本发明的特点是既可用于飞秒脉冲激光器光源的OCT系统,也可用于普通的超辐射二极管(SLD)作光源的OCT系统。另外方法简单,只需在OCT系统的光路中放一挡光物即可。利用本发明,可以将纵向分辨率为20μm的OCT系统提高到纵向分辨率为14μm的系统。

著录项

  • 公开/公告号CN1184927C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN02121331.3

  • 发明设计人 薛平;孙汕;郭继华;

    申请日2002-06-14

  • 分类号A61B5/00;G01N21/45;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100084 北京市100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 5/00 授权公告日:20050119 终止日期:20140614 申请日:20020614

    专利权的终止

  • 2005-01-19

    授权

    授权

  • 2003-03-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-12-11

    公开

    公开

  • 2002-09-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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