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一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置

摘要

本发明涉及一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置,该校准装置包括:合成源,至少一组分频器和功分器,待测源,调制器,参考源和相位噪声测量装置,所述合成源的输出信号经分频器和功分器分频,分频后的信号传输至合路器,该合路器对信号进行处理输出离散谱序列,该离散谱序列经所述调制器后传输至相位噪声测量装置,同时该相位噪声测量装置还接收来自待测源的信号,并对所述离散谱序列和待测源的信号进行测量,测量的结果通过相位噪声测量装置的压控输出端经参考源输入至所述调制器。该校准装置可以实现远载频和近载频分析傅氏频率范围0.01Hz~100MHz内的准确度测量,同时提高了测量精度,还可以立即给出测量结果的误差。

著录项

  • 公开/公告号CN103472427B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201310447213.4

  • 发明设计人 阎栋梁;柳丹;韩红;夏振华;

    申请日2013-09-25

  • 分类号

  • 代理机构北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人张文祎

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱408分箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:37:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    授权

    授权

  • 2014-01-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R35/00 申请日:20130925

    实质审查的生效

  • 2013-12-25

    公开

    公开

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