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用于校正传感器元件的测量值的方法

摘要

用于校正传感器元件的测量值的方法,其中该传感器元件在重复执行的测量周期期间为了执行不同的测量以及为了调整出不同的运行状态而通过电路装置在相继的开关位置中按照预定的顺序周期性地交替电接线,其中重复地执行至少一次用于在预定的开关位置处确定测量周期内的测量值的测量,并且由此确定在所述预定的开关位置处的单测量值,以及其中根据这些单测量值确定所述测量值。规定依据相应的开关位置来校正所述单测量值。由于在不同的开关状态之间的切换是周期性进行的,因此对测量的影响也是周期性的并且由此按照一定的方式是系统性和决定性的。通过测量周期内的开关位置,传感器元件的在单测量之前的运行状态是已知的并由此通过在前的接线对单测量值的影响也是已知的。对应地可以校正单测量值。这在没有如在常规滤波器中大多出现的动态性损失的情况下进行。通过校正单测量值,还校正了根据单测量值确定的测量值。

著录项

  • 公开/公告号CN103917864B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 罗伯特·博世有限公司;

    申请/专利号CN201280055111.1

  • 发明设计人 B.莱德曼;U.贝尔茨纳;T.斯泰纳特;

    申请日2012-09-13

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人杜荔南

  • 地址 德国斯图加特

  • 入库时间 2022-08-23 09:37:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-23

    授权

    授权

  • 2014-08-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/406 申请日:20120913

    实质审查的生效

  • 2014-07-09

    公开

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