首页> 中国专利> 光学伺服比较式大量程绝对位置传感器系统

光学伺服比较式大量程绝对位置传感器系统

摘要

本发明公开了一种光学伺服比较式大量程绝对位置传感器系统。包括两套偏振光检测系统,被测位移引起机械转换结构中的第一圆轮转动,带动第一套检偏系统中的起偏器转过一个角度,发光元件的光束分别通过起偏器和双检偏器到达两个光电检偏元件,其输出端分别接到比较放大器的两输入端,经信号处理与控制装置、电机驱动器接步进电机驱动圆轮,使双检偏器转过与起偏器相同的角度;信号处理与控制装置同时提供位移测量系统的检测与显示输出信号。第二套检偏系统中,第三圆轮与第一检偏系统中的第一圆轮啮合或摩擦耦合,使第二起偏器旋转后和多检偏器间得到一个正比于被测位移的转角,光电检测元件检测到光强信号后,输出到信号处理与控制装置,使系统具有绝对位置检测能力。

著录项

  • 公开/公告号CN1187573C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-02-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN03141869.4

  • 发明设计人 李伟;王耀军;卢圣;

    申请日2003-07-24

  • 分类号G01B11/04;G01B11/26;

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林怀禹

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区玉古路20号

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-09-26

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2005-02-02

    授权

    授权

  • 2004-06-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-03-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号