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利用反射光谱测量单晶硅基太阳能表面增透膜的方法

摘要

本发明公开一种利用反射光谱测量单晶硅基太阳能电池表面增透膜的方法,包括通过建模模拟计算分别得出包含增透膜的单晶硅基太阳能电池的总反射效率A与不包含增透膜的单晶硅基太阳能电池的总反射效率B;基于所述总反射效率A和所述总反射效率B求出单晶硅基太阳能电池的相对反射比率R

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/47 授权公告日:20160309 终止日期:20180809 申请日:20120809

    专利权的终止

  • 2016-03-09

    授权

    授权

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/47 申请日:20120809

    实质审查的生效

  • 2014-02-12

    公开

    公开

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