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使用布拉格光栅阵列测量温度的方法

摘要

一种温度测量技术领域的使用布拉格光栅阵列测量温度的方法,根据待测温对象的几何结构以及测温点确定测温芯片的结构,测温装置上均匀布置若干布拉格光栅,测温装置贴合测温点,向各个布拉格光栅引入一束宽带输入光;温度变化前,宽带输入光入射至各个布拉格光栅,经过各个布拉格光栅后,与每个布拉格光栅对应的反射波长的光被反射回去,被反射的光形成基准输出光谱;温度变化后,宽带输入光入射至各个布拉格光栅,经过各个布拉格光栅反射后,被反射的光形成变化后的输出光谱。将变化后的输出光谱与基准输出光谱相比较,得到与各个布拉格光栅一一对应的波长改变量;依据波长改变量得到对应的各个布拉格光栅的温度改变量,从而得到测温装置的温度分布。本发明能够简便、实用、高效地进行测温。

著录项

  • 公开/公告号CN103604527B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-02-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN201310656199.9

  • 发明设计人 金贤敏;林晓锋;高俊;

    申请日2013-12-06

  • 分类号

  • 代理机构上海交达专利事务所;

  • 代理人王毓理

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2022-08-23 09:35:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-17

    授权

    授权

  • 2014-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K11/30 申请日:20131206

    实质审查的生效

  • 2014-02-26

    公开

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