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一种入光效率测量装置及入光效率测量方法

摘要

本发明公开了一种入光效率测量装置,包括具有可调狭缝单元的模拟光源,通过调节可调狭缝单元来模拟不同LED封装;可调狭缝单元一侧设置有用于承载导光板的平台;还包括位于平台上方的光亮度测量仪,光亮度测量仪用于测量导光板上某一固定点的亮度数值。通过将两次测量的亮度数值对比,得到入光效率之比。从而实现对不同LED封装对应不同厚度导光板的入光效率的定量测量评估。本发明还公开了一种入光效率测量方法。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    授权

    授权

  • 2014-06-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/00 申请日:20140128

    实质审查的生效

  • 2014-05-14

    公开

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