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一种用于提高相位调制器半波电压测量可信度的方法

摘要

本发明涉及量子保密通信领域,公开了一种基于单光子水平扫描的发送有限光子脉冲条件下提高相位调制器半波电压测量可信度的方法。该方法通过对光子计数统计起伏对半波电压测量可信度的分析,确定在发送有限光子脉冲条件下,为使相位调制器半波电压的测量在给定精度下达到一定可信度,单光子探测器在半波电压波峰需探测的光子数,从而提高测量数据的可信度。通过由不完善干涉导致的误码率求出允许相位误差,确定计数起始相位角,并通过统计方法获取光子计数与半波电压测量可信度的关系。该方法有效解决了光子计数统计起伏对测量可信度的影响,适用于常用的相位编码系统,为量子密钥分发系统提供了一种有实际应用价值的精确相位测量方案。

著录项

  • 公开/公告号CN103178954B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南师范大学;

    申请/专利号CN201310078412.2

  • 申请日2013-03-12

  • 分类号H04L9/08(20060101);

  • 代理机构44102 广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人林丽明

  • 地址 510631 广东省广州市天河区中山大道西55号

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04L9/08 授权公告日:20160106 终止日期:20190312 申请日:20130312

    专利权的终止

  • 2016-01-06

    授权

    授权

  • 2013-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04L9/08 申请日:20130312

    实质审查的生效

  • 2013-06-26

    公开

    公开

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