首页> 中国专利> 一种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法

一种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法

摘要

本发明涉及种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法。解决现有对细丝样品分析的方法中,细丝样品只能平放,端面无法朝上,不能使得激光脉冲能打到样品端面上的问题。装置包括紫外激光剥蚀固体进样系统、电感耦合等离子体质谱仪,以及设置在样品池内夹持细丝样品的夹具。本发明的优点是:结构简单,使用方便,且更换快速;能够使得样品在样品池内竖起来,确保激光脉冲能打到样品的端面上;整个夹具没有棱角或凹槽,不吸附气溶胶。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-13

    授权

    授权

  • 2014-04-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/36 申请日:20130618

    实质审查的生效

  • 2014-03-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号