基于高光谱成像技术的脐橙表面农药残留量的检测方法

摘要

本发明公开了一种基于高光谱成像技术的脐橙表面农药残留量的检测方法，包括以下步骤：（1）采集待测脐橙在十一个特征波长处的单波段光谱图像；所述十一个特征波长分别为410nm、431nm、520nm、637nm、680nm、690nm、784nm、880nm、950nm、967nm和1020nm；（2）依据单波段光谱图像的灰度值与反射率的线性关系，将步骤（1）中的单波段光谱图像转化为反射率图像；（3）依据公式计算得到脐橙的反射率图像中每个像素点所对应的农药残留量。本发明能够检测脐橙表面的农药残留含量的分布，检测精度高，检测时间短，不仅减少了环境污染，同时也降低了检测成本。