利用具有不同检验体积的XRF分析对关注元素定位

摘要

公开了用于通过比较从至少两个有区别但重叠的检验量获得的XRF光谱来定位样品中的关注元素的装置和方法。通过改变激励的和/或发荧光的x射线束来改变检验量，该激励的和/或发荧光的x射线束通过重新配置多孔的准直仪来完成。从不同的检验量获得的XRF光谱的比较提供了关于关注元素(例如，铅)是存在于涂层中，存在于下方的本体材料中，或是存在于两者之中的指示。