首页> 中国专利> 超声波式流体测量构造和超声波式流体测量装置

超声波式流体测量构造和超声波式流体测量装置

摘要

本发明提供一种能防止因流体的紊乱而导致超声波产生紊乱的超声波式流体测量构造和超声波式流体测量装置。超声波式流体测量构造(12)具有与流路构件相邻的超声波测量部(16)。流路构件包括:设于第1侧壁部(21)的第1超声波出入部(32)和第2超声波出入部(33);设于第2侧壁部(22)内表面上的反射面(35)。而且,第1超声波出入部和第2超声波出入部相邻,并且,由用于使超声波(36、37)透过的超声波透过膜(38)一并覆盖第1超声波出入部和第2超声波出入部。

著录项

  • 公开/公告号CN102072751B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN201010122161.X

  • 申请日2010-02-26

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-15

    授权

    授权

  • 2012-08-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01F 1/66 申请日:20100226

    实质审查的生效

  • 2011-05-25

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号