用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法

摘要

本发明涉及用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法。在直方图中使通过半导体检测器上的电离辐射的影响所获得的电荷的测量分组。校准和所获得的数据用于获得测量的接受概率，其用于通过加权测量来构建事件的直方图，以排除一些因素(诸如扩散辐射)的影响或者相反地增强该影响。