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基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器

摘要

本发明涉及无损检测领域,具体涉及对铁磁构件的表面裂纹、气孔、夹渣、应力集中等缺陷的无损探测设备;本发明提供了一种可对构件表面进行面扫描的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,包括差分阵列式漏磁探头,由法向分量检测霍尔传感器组和切向分量检测霍尔传感器组组成,分别用于检测漏磁场的法向分量电压信号和切向分量电压信号;信号调理电路,用以对差分阵列式漏磁探头检测到的电压信号进行调理;数据采集与处理单元,通过对信号调理电路输出的电压信号进行分析,判断铁磁构件表面是否存在缺陷。本发明一次性检测面积大、检测速度快、检测准确、漏检率低,并能提供对构件表面的裂纹等缺陷进行定量分析所需的数据。

著录项

  • 公开/公告号CN102435668B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN201110255366.X

  • 发明设计人 廖昌荣;韩亮;汪滨波;

    申请日2011-08-31

  • 分类号

  • 代理机构北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人谢殿武

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 27/83 授权公告日:20150527 终止日期:20160831 申请日:20110831

    专利权的终止

  • 2015-05-27

    授权

    授权

  • 2015-05-27

    授权

    授权

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/83 申请日:20110831

    实质审查的生效

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/83 申请日:20110831

    实质审查的生效

  • 2012-05-02

    公开

    公开

  • 2012-05-02

    公开

    公开

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