使用干涉法的用于二维光程分布的绝对测量的装置

摘要

一种用于二维光程分布的绝对测量的装置，包括：光源(4)，用于以具有多个波长的光照明物体(26)；干涉仪(12)，用于形成物体的至少一部分的图像，该图像包括宽带干涉图；高光谱成像器(30)，与干涉仪光学连接，用于将宽带干涉图光谱地分成多个窄带二维干涉图(72，74，76)；寄存器(38)，用于空间地记录窄带干涉图；提取器，用于从每个窄带干涉图中相应的像素中提取一维光强信号；以及计算器(100)，用于针对对象上的每一点，根据与该点关联的一维光强信号计算出频率。