首页> 中国专利> 一种透明基材上金属导线印迹形貌特征的检测和表征方法

一种透明基材上金属导线印迹形貌特征的检测和表征方法

摘要

本发明涉及一种透明基材上金属导线印迹的形貌特征检测和表征方法,包括(1)从透明基材的金属导线印迹样品的背面,沿与样品表面垂直方向照射样品,光源为白光,且为平行光;在透明基材的金属导线印迹样品的正面沿样品表面垂直方向设置CCD成像系统;(2)对CCD成像系统进行光透过率的标定;(3)拍摄得到透明基材上金属导线印迹的灰度数字影像;(4)利用标定关系,对灰度数字影像进行数值转换,形成印迹样品的光透过率数字影像;(5)任意选取金属导线印迹中的一段,通过数字图像处理的方法得到金属导线印迹的表面形貌、面粗糙度,以及印迹线宽度和线边缘粗糙度等形貌特征。本发明利用透射光信息得到了金属导电印迹的定量化形貌参量。

著录项

  • 公开/公告号CN103234477B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京印刷学院;

    申请/专利号CN201310116410.8

  • 申请日2013-04-03

  • 分类号

  • 代理机构北京北新智诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘徐红

  • 地址 102600 北京市大兴区黄村镇兴华北路25号

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/24 授权公告日:20150610 终止日期:20170403 申请日:20130403

    专利权的终止

  • 2015-06-10

    授权

    授权

  • 2015-06-10

    授权

    授权

  • 2013-09-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20130403

    实质审查的生效

  • 2013-09-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20130403

    实质审查的生效

  • 2013-08-07

    公开

    公开

  • 2013-08-07

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号