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用于校准多轴计量系统的几何形状的方法

摘要

一种用于校准多轴计量系统的几何形状的方法,其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器,并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系,校准机器和嵌入式量具的各个分量,并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤:粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴,并且为转动轴设置标称零点;将嵌入式量具主机架对准机器轴线;将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上;如此对准之后,确定转动轴之间的空间偏移;精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴;以及为转动轴设置精确的零点。

著录项

  • 公开/公告号CN102519399B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QED国际科技公司;

    申请/专利号CN201110339355.X

  • 申请日2004-11-18

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人曲莹

  • 地址 美国伊利诺斯州

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-20

    授权

    授权

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/27 申请日:20041118

    实质审查的生效

  • 2012-06-27

    公开

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