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大温差样品的半球向全发射率与导热系数的测量方法

摘要

本发明具体公开了一种大温差样品的半球向全发射率与导热系数的测量方法,所述方法包括:在真空环境下通电加热带状导体样品,沿其轴向布置多个热电偶测点;形成样品分析区,并测量获得分析区的电流值和电压值;将样品沿轴向分为多个微元控制体,建立微元控制体的稳态能量平衡方程,将半球向全发射率和导热系数分别表示为关于温度的数学函数;在不同稳态温度条件下进行多组稳态测量实验,构造出多个稳态能量平衡方程;计算得到各微元控制体在不同稳态下的温度分布及不同稳态温度条件下的半球向全发射率和导热系数。本发明克服了现有技术无法对导热系数未知的大温差导体材料样品进行半球向全发射率测量的问题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-15

    授权

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  • 2013-09-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/20 申请日:20130424

    实质审查的生效

  • 2013-08-21

    公开

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