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获取正电子发射断层扫描系统响应模型与图像重建的方法

摘要

本发明公开了一种获取正电子发射断层扫描的系统响应模型及图像重建的方法及装置。一种正电子发射断层扫描的图像重建方法,包括:获取γ光子入射到晶体条阵列的深度效应响应信息;根据所述深度效应响应信息符合生成背对背的γ光子入射晶体条对时决定的响应线的深度效应响应模型;根据所述深度效应响应模型生成系统响应模型;以及,根据所述的系统响应模型进行图像重建。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-08

    授权

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  • 2013-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/03 申请日:20130809

    实质审查的生效

  • 2013-11-20

    公开

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