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非线性修正扩展电离室量程范围的方法

摘要

本发明提供一种非线性修正扩展量程范围的方法,在电离室饱和全收集情况下,其测量的剂量率De可由下式计算:De=Ie/Ke,Ie=C·ΔV/t;在电离室不饱和收集情况下,其测量的剂量率De可由下式计算:De=E·X

著录项

  • 公开/公告号CN1152264C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国辐射防护研究院;

    申请/专利号CN02100720.9

  • 发明设计人 杨华庭;张世让;程昶;郭占杰;

    申请日2002-01-21

  • 分类号G01T1/185;

  • 代理机构核工业专利中心;

  • 代理人高尚梅

  • 地址 030006 山西省太原市

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-03-24

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2004-06-02

    授权

    授权

  • 2002-12-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-09-18

    公开

    公开

  • 2002-06-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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