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一种铜矿石中铜含量的X射线荧光光谱分析方法

摘要

本发明涉及一种铜矿石中铜含量的X射线荧光光谱分析方法,即一种利用固化剂制备分析样片的方法,可应用于铜矿石中铜含量的测定,能够对铜矿石中铜含量进行快速分析,满足进出口铜矿石和铜冶炼过程控制要求。本发明提供一种基于固化制样的铜矿石中铜含量的X射线荧光光谱分析技术,方法快速、准确,能够实现日常铜矿石中铜含量检验的需要,本发明处理效率高,社会效益明显。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/223 授权公告日:20150318 终止日期:20180301 申请日:20130301

    专利权的终止

  • 2015-03-18

    授权

    授权

  • 2015-03-18

    授权

    授权

  • 2013-08-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20130301

    实质审查的生效

  • 2013-08-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20130301

    实质审查的生效

  • 2013-07-17

    公开

    公开

  • 2013-07-17

    公开

    公开

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