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包含相位元件的垂直入射宽带偏振光谱仪和光学测量系统

摘要

本发明公开一种包含相位元件的垂直入射宽带偏振光谱仪,包括光源、分光元件、聚光单元、偏振器、相位补偿元件、第一曲面反射元件、第一平面反射元件和探测单元。本发明还公开一种光学测量系统,包括所述的垂直入射宽带偏振光谱仪。该垂直入射宽带偏振光谱仪利用至少一个平面反射元件改变会聚光束传播方向,实现探测光束垂直入射并会聚于样品表面,易于调节聚焦、可实现无色差、可保持偏振特性、且结构简单。而且,根据本发明提供的垂直入射光谱仪及光学测量系统,增加了相位补偿元件,通过椭圆偏振测量法可以准确测量出样品琼斯矩阵中r

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 3/447 授权公告日:20150107 终止日期:20181011 申请日:20111011

    专利权的终止

  • 2015-01-07

    授权

    授权

  • 2015-01-07

    授权

    授权

  • 2013-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/447 申请日:20111011

    实质审查的生效

  • 2013-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/447 申请日:20111011

    实质审查的生效

  • 2013-04-17

    公开

    公开

  • 2013-04-17

    公开

    公开

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