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用于影响和/或探测视场中的磁性粒子的装置和方法

摘要

本发明涉及一种用于影响和/或探测视场(28)中的磁性粒子的装置(100),其中视场(28)包括覆盖包含磁性粒子的感兴趣对象的至少一部分的至少一个感兴趣子场。应用磁性粒子成像(MPI)的已知原理的该装置(100)包括用于生成具有呈现出无场点(FFP)的已知场图样的磁选择场(50)的选择模块、用于借助磁驱动场改变FFP的空间位置的驱动模块、用于采集取决于视场(28)之内的磁性粒子的磁化强度的探测信号的接收模块、用于控制接收模块中包括的信号接收单元(140)以采集一组高分辨率探测信号和一组低分辨率探测信号的控制单元(150)以及用于重建取决于该组高分辨率探测信号和该组低分辨率探测信号的粒子分布量的重建单元(152),其中,该组高分辨率探测信号取决于至少一个感兴趣子场的磁化强度,而该组低分辨率探测信号取决于与该至少一个感兴趣子场相邻布置的至少一个相邻子场的磁化强度。本发明还涉及对应的方法以及计算机程序。

著录项

  • 公开/公告号CN102497810B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201080040140.1

  • 申请日2010-08-16

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人王英

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-17

    授权

    授权

  • 2012-10-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 5/05 申请日:20100816

    实质审查的生效

  • 2012-06-13

    公开

    公开

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