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用于确定计数结果的处理电子器件和方法以及用于X射线成像设备的探测器

摘要

本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18),所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24),其中,所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16),使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理,并且其中,所述处理电子器件(18)包括处理器(34),所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32),并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K),从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-17

    授权

    授权

  • 2011-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/16 申请日:20080923

    实质审查的生效

  • 2011-07-13

    公开

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