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一种基于Delaunay三角剖分的特征点坐标自动对应方法

摘要

本发明属于机器视觉领域,具体为一种基于Delaunay三角剖分的特征点坐标自动对应方法。该方法包括以下步骤:(1)二值分割,筛选有效特征点图像区域;(2)最小二乘椭圆拟合计算特征点的像素坐标;(3)对特征点集进行Delaunay三角剖分;(4)筛选有效剖分三角形;(5)遍历有效剖分三角形的非最长边,建立特征点集合的四邻域信息表;(6)查询四邻域信息表,四邻域递归搜索遍历特征点集合,在遍历过程中计算每个特征点的世界坐标,完成其像素坐标与世界坐标的对应。当图像存在拍摄倾角、畸变以及特征点缺失时,本发明提出的方法仍可有效运行,特别适合IC封装视觉定位系统的在线标定。

著录项

  • 公开/公告号CN102779340B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201210192953.3

  • 申请日2012-06-12

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-10

    授权

    授权

  • 2013-01-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20120612

    实质审查的生效

  • 2012-11-14

    公开

    公开

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