法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-11-05
授权
授权
2012-06-27
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20091230
实质审查的生效
2012-05-09
公开
公开
机译: 用于通过半导体晶片穿透孔的金属填充装置及使用该装置的填充方法,能够提高半导体封装件的质量
机译: 通过填充绝缘层和用于制造高密度集成半导体电路的全导电材料来选择性填充触点孔的方法以及用于该方法的装置
机译: 通过孔填充装置进行晶片加工以及使用该孔填充方法的晶片