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表面贴装微波器件S参数测试系统及测试数据校准方法

摘要

本发明公开了一种表面贴装微波器件S参数测试系统及测试数据校准方法,被测器件的输出与定向耦合器相连,定向耦合器与信号发生器相连,每个定向耦合器的两路输出分别依次通过功率检波器和模数转换器与中央控制器连接;它还包括电压检测电路、电流检测电路和温度检测电路,电压、电流和温度检测电路的输出均通过模数转换器与中央控制器连接。校准方法包括:确认校准状态;使用机械校准套件进行校准;使用电子校准套件进行校准。本发明能够测试工作在大功率或大动态范围工作状态下的滤波器件S参数,且测试功率及频率范围广;能够检测器件的温度、电压及电流,提高了其使用安全性和稳定性;采用双重校准方法,可进一步提高S参数测试结果的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN103048550B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210583958.9

  • 发明设计人 黄存根;吴永清;徐仁远;

    申请日2012-12-28

  • 分类号

  • 代理机构成都金英专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人袁英

  • 地址 611731 四川省成都市高新西区新文路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:21:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-11-12

    授权

    授权

  • 2013-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/28 申请日:20121228

    实质审查的生效

  • 2013-04-17

    公开

    公开

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