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一种大数据量荧光分子断层成像重建方法

摘要

本发明涉及一种大数据量荧光分子断层成像重建方法,包括以下步骤:采用的全角度自由空间FMT成像系统采集待成像物体的荧光图像和白光图像;采用边缘检测方法提取每一幅白光图像中待成像物体的边界轮廓线,得到投影轮廓线图像;对每一幅投影轮廓线图像均采用滤波反投影方法依次进行反投影得到待成像物体的三维轮廓图像;采用有限元方法求解扩散方程的格林函数;将每一幅荧光图像划分为若干相同大小的子荧光图像;采用所求得的格林函数建立每一个子荧光图像所对应的子系统方程;对每一幅荧光图像划分的每一子荧光图像所对应的子系统方程压缩后依次按行排列得到压缩系统方程;求解压缩系统方程得到待成像体内的荧光标记物分布。本发明可以广泛应用于大数据量的荧光分子断层成像重建中。

著录项

  • 公开/公告号CN102871646B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201210293156.4

  • 发明设计人 白净;曹旭;张宾;刘飞;王鑫;

    申请日2012-08-16

  • 分类号A61B5/00(20060101);G06T9/00(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐宁;关畅

  • 地址 100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

  • 入库时间 2022-08-23 09:21:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-31

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B5/00 授权公告日:20140910 终止日期:20190816 申请日:20120816

    专利权的终止

  • 2014-09-10

    授权

    授权

  • 2014-09-10

    授权

    授权

  • 2013-02-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B5/00 申请日:20120816

    实质审查的生效

  • 2013-02-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 5/00 申请日:20120816

    实质审查的生效

  • 2013-01-16

    公开

    公开

  • 2013-01-16

    公开

    公开

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