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用于对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的系统

摘要

本发明涉及放射性物质探测和X光辐射成像领域,提供了一种用于在同一地点进行对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的集成系统,解决了现有技术中两种检测必须分开进行的技术问题。本发明中的集成系统包括:X光检测设备,用于对被检物体进行X光辐射成像检查;放射性物质监测设备,用于检测所述被检物体发出的放射性射线;以及用于阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备的装置。本发明实现了两种检测的紧凑集成,大大节约了空间、时间资源,避免了由于在放射性物质监测设备和X光检测设备之间不断运送货品导致的人力、物力上的浪费。

著录项

  • 公开/公告号CN102565097B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同方威视技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201110435104.1

  • 申请日2008-03-18

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人周红力

  • 地址 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-09

    授权

    授权

  • 2012-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/00 申请日:20080318

    实质审查的生效

  • 2012-07-11

    公开

    公开

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