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复用JTAG接口的FPGA片内逻辑分析仪系统和方法

摘要

本发明公开了一种复用JTAG接口的FPGA片内逻辑分析仪系统和方法,涉及现场可编程门阵列技术,用来实现现场可编程门阵列(FPGA)内部信号的调试和观测,主要包含复用的联合测试行动组(JTAG)接口、可在线选择不同采样信号的片内逻辑分析仪电路以及同时接收采样信号和触发状态的人机界面模块。本发明的有益之处在于,提供了一种复用联合测试行动组接口的方法来实现片内逻辑分析仪系统,通过在线选择采样信号降低了片内逻辑分析仪系统对片内采样存储器资源的需求,其中所需的存储器资源数量和采样信号组的数量成反比,并提出了一种可以实现联合测试行动组分时传输采样信号和触发状态信息的方法,提高了现场可编程门阵列调试的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN102541707B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电子学研究所;

    申请/专利号CN201010588370.3

  • 发明设计人 谭宜涛;杨海钢;

    申请日2010-12-15

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-23

    授权

    授权

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/25 申请日:20101215

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

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